掃描電鏡的分辨率如何受電子束條件影響?
掃描電子顯微鏡(SEM)?的分辨率在很大程度上受到電子束條件的影響。電子束的加速電壓、束斑直徑、探測器類型、束流強度等參數都會直接或間接地影響成像效果和分辨率。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-12
掃描電子顯微鏡(SEM)?的分辨率在很大程度上受到電子束條件的影響。電子束的加速電壓、束斑直徑、探測器類型、束流強度等參數都會直接或間接地影響成像效果和分辨率。
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在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,低導電材料的成像效果常常會受到樣品充電效應的影響。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-12
在掃描電鏡(SEM)?中進行晶體學分析和取向圖譜(Orientation Map)測量,通常需要使用電子背散射衍射(EBSD)技術。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-11
掃描電鏡(SEM)的真空系統在圖像質量方面起著至關重要的作用,主要通過以下幾個方面影響圖像的清晰度、對比度以及噪聲水平。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-11
在掃描電鏡(SEM)中,光束掃描和機械掃描是兩種用于掃描樣品并生成圖像的不同方式。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-07
在掃描電鏡(SEM)中實現樣品的高倍率成像,需要從樣品制備、操作參數設置和設備調控等多方面入手,以確保獲得清晰、細節豐富的高倍率圖像。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-06
金屬樣品在掃描電鏡(SEM)中的成像效果通常非常好。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-06
掃描電鏡(SEM)中的深度聚焦模式(或稱大景深模式)可以顯著提高圖像的景深,使樣品在更大的深度范圍內保持清晰對焦。
MORE INFO → 行業動態 2024-11-05